12月25日，由德國耶拿化學分析、上海恒奇儀器儀表有限公司主辦，邀請在半導體化學分析行業資深老師的技術交流會成功舉辦。

下午，以“耶拿化學化學分析產品在半導體行業的應用”為主題的分論壇于德國耶拿會議室舉行。

                                  主題討論一

ICP-MS&ICP-OES產品經理朱晨華老師就耶拿ICP-MS&ICP-OES的產品特點及其在半導體行業的應用做了深入全面的介紹。

      電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）由于其獨有的分析速度快、靈敏度高、適用性廣等特點，在諸多行業都成為了標準的分析方法。德國耶拿PlasmaQuant MS系列ICP-MS在可靠性、精密度及樣品通量等諸多方面均超出業界預期，在簡化樣品前處理、分析方法穩健性及合規性等方面完全貼合用戶需求。

                           主題討論二

第二場由耶拿應用支持經理王越慜老師就耶拿TOC產品在半導體行業的具體應用做了具體介紹。

▪ 總有機碳（TOC）是評價有機物污染程度可量化的綜合指標。

▪ 微電子/半導體領域中，有機污染物的存在可能造成電子器件細微缺陷，從而降低產品質量和生產率。

▪ 因此通過控制總有機碳的含量，可以提升對產品質量的把控。

▪ 濕電子化學品TOC檢測要求，SEMI F57標準中TOC的應用

耶拿multi N/C 3300 or 4300 UV可滿足以下高純試劑檢測：

▪超純水，硫酸，硼酸，氨水，鹽酸，雙氧水，水其他試劑

自由發言討論環節，多位來自不同從事半導體行業化學實驗室工作和研究領域的老師，圍繞ICP-MS和TOC的目前市場狀況及使用反饋做了討論。

隨后朱老師和王老師帶領參會人員參觀了耶拿實驗室，就ICP-MS&ICP-OES和TOC產品及其他耶拿化學分析設備的具體使用和應用做了全面的介紹。至此，本次分論壇圓滿結束。